+7 (812) 380-06-94
График работы:
Пн - Пт: 9:00 - 17:30
Сб - Вс: Выходной
Заявка пуста |
---|
Анализатор Hioki IM3590 специально разработан для использования в электрохимической области. Предназначен для работы с материалами и составляющими, используемыми в таких устройствах как: элементы питания, топливные элементы, электрические двухслойные конденсаторы, для проверки коррозии и противокоррозионных свойств материалов, поверхностные обработки (гальванопокрытие). Благодаря таким функциям, как диаграмма Коул-Коула и анализ эквивалентной цепи, IM3590 особенно хорош для характерного анализа в научных исследованиях. Эти способности позволяют использовать прибор в электрохимических исследованиях, чтобы измерить особенности материалов, которые невидимы для глаза.
1. Диаграмма Коул-Коула (Cole-Cole plot): графическое представление значений полного сопротивления, измеренного на различных частотах в Гауссовой плоскости.
2. Анализ эквивалентной цепи (Equivalent circuit analysis): Эквивалентные цепи - результат замены объекта при измерении смешанных цепей, состоящих из резисторов, конденсаторов, и катушек индуктивности. Исследование эквивалентной цепи - процесс вычисления значения каждой составляющей этой цепи.
Режимы измерений |
Режим LCR, Режим продолжительных измерений, Режим анализатора |
Измеряемые параметры |
Z, Y, θ, Rs(ESR), Rp, Rdc(DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D(tanδ), Q, T, σ, ε |
Диапазоны измерений |
100 мОм до 100 МОм, 10 диапазонов (Все параметры определены |Z|) |
Отображаемые диапазоны |
Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, σ, ε: ±(0,000000 [единица измерения] до 9,999999 G [единица измерения], Абсолютна величина отображается только для Z и Y. |
Основная точность |
|Z|: ±0,05 % и.в., θ: ±0,03° |
Номинальная частота |
от 1 мГц до 200 кГц (шаг 1 мГц до 10 Гц) |
Уровень сигнала |
Нормальный режим |
Выходное сопротивление |
Нормальный режим: 100 Ом |
Время измерений |
2 мс (1 кГц, FAST, отображение отключено, типичное значение) |
Функции |
Измерение со смещением DC, температурная компенсация DCR (отображение рекомендуемой температуры), компаратор, загрузка и сохранение, функция памяти. |
Дисплей |
5.7 дюймовый сенсорный ЖК-дисплей |
Интерфейс |
EXT I/O, USB управление, USB память, |
Источник питания |
от 100 до 240 В AC, 50/60 Гц, 50 VA максимум |
Размеры и масса |
119 мм Выс. × 330 мм Шир. × 168 мм Толщ. Масса: 3,1 кг. |
Аксессуары |
Силовой шнур, Руководство по эксплуатации, CD со списком команд и образцом программного обеспечения. |
Для выполнения измерений необходимы дополнительные опции, которые не входят в комплект поставки прибора.
Четырехтерминальный пробник (DC до 5 МГц), длина кабеля 1 метр
Четырехтерминальный пробник (DC до 200 кГц, 50 Ом), длина кабеля 1 метр
Пробник (DC до 8 МГц, 50 Ом), длина кабеля 0,73 м.
Тестовое приспособление (с соединительными кабелями, DC до 5 МГц, 50 Ом), длина кабеля 1 метр.
Тестовое приспособление (с прямым соединением, DC до 5 МГц).
Тестовое приспособление SMD типа, для проверки керамических конденсаторов (с прямым соединением, DC до 5 МГц). Размеры тестируемых объектов: 1 мм до 10 мм.
SMD тестовое приспособление SMD типа, для проверки электродов со стороны, DC до 120МГц. Размеры тестируемых объектов: 3,5мм ±0,5мм.
SMD тестовое приспособление SMD типа, для проверки нижней части электродов, DC до 120МГц. Размеры тестируемых объектов: 1 мм до 4 мм ширина, 1,5мм высота.
GP-IB соединительный кабель (длина 2м).
Контакты для L2001
Контакты для L2001
Тестовое приспособление SMD типа DC до 8МГц. Размеры тестируемых объектов: 01005 до 0402 (по стандарту EIA)
Блок смещения напряжения DC (от 40 Гц до 8 МГц, max ± 40 В)
Блок смещения тока DC (от 40 Гц до 2 МГц, max 2 A)
Четырехтерминальный пробник для проведения электрохимических измерений (DC до 200 кГц, 50 Ом), длина кабеля 1 метр.
Соединительный кабель RS232C, длина 1,8 м.
GP-IB нитерфейс
RS-232C интерфейс
LAN интерфейс
Платиновый термометр сопротивления Pt100 диаметр 2,3 мм, длина кабеля 1 метр, водонепроницаемый
Расширенное описание (англ.) размер: 3.4 МБайт
Здесь, Вы можете задать любой интересующий Вас вопрос по данному прибору.
Тест.частота:1МГц...300МГц
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B,
Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
Время измерения: от 0,5 мс
Погрешность: 0,72%<...
Тест. частота: 4 Гц...5 МГц
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc, X
G, B, Cs, Cp, Ls, Lp,D(tanδ),Q
Время измерения: от 0,5 мс
Погрешность: 0,08%
Тест.частота: 1МГц...1,3 ГГц
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B,
Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
Время измерения: от 0,5 мс
Погрешность: 0,65...